Pomiary kierunków pionowych4.pdf

Pomiary kierunków pionowych

- Wszystkie obecnie produkowane instrumenty geodezyjne

przeznaczone do pomiarów k ą towych maj ą na kr ę gu pionowym

podział wertykalny tj. zero podziału pokrywa si ę z indeksem

odczytowym, gdy luneta skierowana jest obiektywem ku zenitowi.

- Mierzone zatem w płaszczy ź nie pionowej kierunki do celów

wyznaczaj ą k ą ty zenitalne

- K ą ty liczone od linii pionu do linii celu zwane s ą k ą tami

zenitalnymi

- K ą ty liczone w płaszczy ź nie pionowej od kierunku poziomego do

kierunku na cel zwane s ą k ą tami pionowymi .

Interpretacja geometryczna k ą ta zenitalnego i k ą ta pionowego

kierunek poziomy

0 , h

Oznaczenia:

π o,h – płaszczyzna pozioma zawieraj ą ca o ś obrotu lunety h

π c,v – płaszczyzna pionowa zawieraj ą ca o ś celow ą c i o ś główn ą

instrumentu v

π v,h – płaszczyzna pionowa zawieraj ą ca o ś główn ą instrumentu v i o ś

obrotu lunety h

Poniewa Ŝ instrument mo Ŝ e by ć obarczony bł ę dami osiowymi,

geometrycznymi, bł ę dami systemu odczytowego itp., do pomiaru

kierunków pionowych obieramy z reguły technologi ę , która

eliminuje w istotny sposób wymienione bł ę dy tj. pomiar

kierunków przy dwóch poło Ŝ eniach lunety.

C , v

V , h

Wymogi techniczne i dokładno ś ciowe przy pomiarze

kierunków pionowych

1). Punkty celu w pewnych pracach geodezyjnych mog ą by ć

sygnalizowane w terenie:

- spionowanymi tarczami celowniczymi

- sygnałami stałymi na wie Ŝ ach ko ś cielnych

- wie Ŝ ach triangulacyjnych oraz innych obiektach technicznych tj.

mi ę dzy innymi na masztach anten radiowych i telefonicznych.

Miejsce nacelowania na obiekty techniczne powinno by ć

naszkicowane w dzienniku pomiaru k ą tów zenitalnych.

2). Przy pomiarze kierunków pionowych w sieciach szczegółowych

jako punkt nacelowania przyjmuje si ę :

- punkt ś rodkowy rysunku tarczy,

- dla wie Ŝ triangulacyjnych przeno ś nych i stanowisk podwy Ŝ szonych

– ś rodek tarczy celowniczej ustawionej na wie Ŝ y,

- dla sygnałów i wie Ŝ stałych – ś rodek ś wiecy u szczytu daszka lub

ka Ŝ dy inny dobrze widoczny i jednoznaczny punkt ś wiecy, pod

warunkiem, Ŝ e b ę dzie mo Ŝ na okre ś li ć jego wysoko ść wzgl ę dem

centra punktu ze ś rednim bł ę dem +/- 0.01 m,

- dla wie Ŝ budynków i budowli miejscem nacelowania mo Ŝ e by ć

ś rodek kuli, podstawa krzy Ŝ a lub inny wyra ź ny punkt zako ń czenia

wie Ŝ y.

3). Pomiary k ą tów nale Ŝ y wykonywa ć w godzinach od 10 do 16.

4). W sieciach szczegółowych II klasy obserwacje k ą tów pionowych

podobnie jak poziomych nale Ŝ y wykonywa ć (instrumentem o

odpowiedniej klasie dokładno ś ciowej) w trzech seriach.

5). Ś redni bł ą d k ą ta pionowego w sieciach szczegółowych II klasy nie

powinien by ć wi ę kszy od 18 cc . Ró Ŝ nice kierunków pionowych

pomierzonych w poszczególnych seriach nie powinny by ć wi ę ksze od

40 cc .

6). K ą ty zenitalne mierzone do celów na ró Ŝ nej wysoko ś ci s ą

obarczone wpływem refrakcji oraz bł ę dami celowania, odczytu i

bł ę dem poziomowania libeli kolimacyjnej (w teodolitach libelowych

klasycznych) lub bł ę dem kompensatora w teodolitach automatycznych

(elektronicznych i klasycznych).

7). Promie ń ś wietlny przechodz ą cy przez warstwy atmosfery o ró Ŝ nej

g ę sto ś ci nie biegnie po prostej tylko po pewnej krzywej zwanej

krzyw ą refrakcji, co powoduje, Ŝ e obserwator ustawia o ś celow ą

instrumentu wzdłu Ŝ stycznej do krzywej refrakcji. Refrakcja zwykle

podnosi cele tzn. obserwator widzi je wy Ŝ ej od rzeczywistego ich

poło Ŝ enia, ale w przypadku wyst ą pienia zjawiska inwersji termicznej

kierunek wypukło ś ci linii refrakcyjnej zmienia si ę na przeciwny.

kierunek poziomy

Wpływ refrakcji na mierzony kierunek pionowy .

Plik z chomika:

Inne pliki z tego folderu:

Inne foldery tego chomika: