Pytania.doc

Z1

C1

1)        Podać i omówić definicję odchyłki walcowości.
Odchyłka walcowości - to największa odległość między walcem rzeczywistym, a walcem przylegającym.

rys. 1.4

Odmiany odchyłek walcowości: baryłkowość, siodłowość, stożkowość.

2)        Komputerowy system pomiaru odchyłek kształtu wałka.
Strona 39.

C2

1)        Wyjaśnić zasadę doboru współczynnika wykrywalności pryzmy.
Odchyłka graniastości przy pomiarach w pryzmie Δ jest obrazem wskazania czujnika Δw i współczynnika wykrywalności pryzmy S. Δ=Δw/S. wartość współczynnika wykrywalności odczytuje się z tablic. Aby go odczytać należy znać ilo-kątna jest graniastość oraz kat pryzmy.      

2)        Wyjaśnić związki pomiędzy tolerancja wymiaru i kształtu  wałków lub otworów.
ΔW = T –ΔK. Oznacza to ze dopuszczalna całkowita odchyłka wymiarowa ΔW zależy od odchyłki określającej dokładność kształtu ΔK. W każdym przypadku tolerancja kształtu winna zajmować tylko część tolerancji wymiaru. Jeżeli wymagania dotyczące dokładności kształtu SA większe niż wynika to z tolerancji wymiarów to stosujemy dodatkowo tolerancje kształtu.

C8

1)        Wyjaśnić dlaczego przy sprawdzaniu równoległości powierzchni pomiarowych mikromierza stosuje się 4 płytki interferencyjne.
Płasko równoległe płytki interferencyjne wykonane są w kompletach po 4sz ze stopniowaniem wymiaru nominalnego równym 0. 125mm. Tak dobrane stopniowanie umożliwia sprawdzenie równoległości powierzchni pomiarowych mikromierza co 0.25 obrotu bębna.

2)        Wymienić i omówić cechy podlegające kontroli podczas okresowego sprawdzania mikromierzy.
Ogólnie zakres sprawdzania wszystkich przyrządów pomiarowych obejmuje etapy:
- oględziny zewnętrzne: na tym etapie sprawdzania przyrządów pomiarowych należy zwrócić uwagę na poprawność oznakowania czytelność oraz stan podziałek, na występowanie uszkodzeń mechanicznych powierzchni ze szczególnym zwróceniem uwagi na powierzchnie pomiarowe, powierzchnie prowadnic i występowanie śladów korozji,
- sprawdzanie stanu konstrukcji i jakości wykonania: na tym etapie sprawdzania przyrządów pomiarowych należy zwrócić uwagę czy względem materiałów, rozwiązań konstrukcyjnych i jakości wykonania sprawdzany przyrząd odpowiada wymaganiom stosownych przepisów metrologicznych, jak również na sprawne działanie poszczególnych elementów konstrukcyjnych (lekkość przesuwu, obrotu, blokowania, występowanie zauważalnych luzów) i występowanie namagnesowania, oraz dokonać pomiaru lub porównania chropowatości powierzchni pomiarowych.
- sprawdzanie charakterystyk metrologicznych: na tym etapie sprawdzania należy dokonać sprawdzenia płaskości i równoległości powierzchni pomiarowych, sprawdzenia prostoliniowości powierzchni prowadzących, oraz sprawdzenia dokładności wskazań.

C9

1)        Podać definicję S mi , Sm.
-odstęp chropowatości (S mi) – jest to długość odcinka linii średniej m zawierająca wzniesienie i sąsiadujące z nim wgłębienia profilu chropowatości

-średni odstęp chropowatości  (Sm) – jest to średnia wartość z odstępów chropowatości występujących w przedziale odcinka elementarnego (l)

2)        Na czy polegają stykowe metody pomiaru.
Metoda stykowa polega na wykorzystaniu igły o znanej geometrii przesuwającej się po badanej powierzchni ze stałą prędkością. Przemieszczenia pionowe igły są przekształcane na sygnał elektryczny. Wzmocniony sygnał może być przetwarzany na wartości liczbowe żądanych parametrów chropowatości lub rejestrowany w postaci profilogramu o znanym powiększeniu pionowym i poziomym.

C10

1)        Podać definicje wariancji i odchylenia standardowego.

Wariancja: W statystyce klasyczna miara zmienności jest równa kwadratowi odchylenia średniego. Wyznacza się na podstawie próbki liczebności n i przyjmuje jako oszacowanie wariancji dla danej populacji.

Odchylenie standardowe: mówi jak szeroko wartości jakiejś wielkości są rozrzucone wokół jej średniej. Im mniejsza wartość odchylenia tym obserwacje są bardziej skupione wokół średniej.

2)        Omówić przebieg badania zgodności rozkładu cechy w populacji z rozkładem normalnym.
Strona 211.

Z2

C1

1)        Wymienić elementy komputerowych systemów pomiarowych.
Przyrządy pomiarowe z wbudowanymi elektrycznymi przetwornikami wielkości (długości lub kata) oraz przetwornikami A/D musza mieć one cyfrowe wyjście danych, program transmisji danych. Komputer systemowy gdzie jest przeprowadzana obróbka i analiza. Oprogramowanie do gromadzenia, analizy, graficznego przedstawienia wyników pomiarowych np. Excel.

2)        Omówić uproszczone metody pomiaru odchyłek walca.
Średnice wałków mierzy się najpierw za pomocą suwmiarki z noniuszem 0,1mm. Mierzymy na obu końcach oraz w środku walka. Następnie w tych samych miejscach mierzy się za pomocą suwmiarki z noniuszem 0,05mm oraz mikrometrem. Można użyć tez dokładniejszego przyrządu np. transmoetru. Znając  średnice walka ustawia się zestaw płytek wzorcowych na ten wymiar. Następnie ustawia się wrzeciono transometru po czym wsuwa Walek pomiędzy kowadełko a wrzeciono. Wychylająca się wskazówka na podziałce wyznacza wartość odchyłki kształtu walka.

C2

1)        Definicja odchyłki okrągłości:
Odchyłka okrągłości – miara niezgodności rzeczywistego zarysu przedmiotu z kształtem geometrycznym okręgu. Jest to największa odległość zarysu rzeczywistego od okręgu przylegającego do tego zarysu, mierzona wzdłuż promienia tego okręgu. Najczęściej spotykanymi odchyłkami okrągłości są owalność i graniastość. W celu wykrycia owalności stosuje się styk 2 punktowy a do garaniastości styk 3 punktowy.

2)        Komputerowy system pomiaru nieparzystych odchyłek okrągłości
Strona 48.

C8

1)        Omówić przebieg wyznaczania nacisku pomiarowego mikromierza.
Zakładamy obciążenie wstępne na jedną szale wagi na drugą szale zakładamy odpowiednie odważniki. Montujemy w statywie mikromierz doprowadzamy do styku powierzchni pomiarowych mikromierze przez obracanie sprzęgiełka mikromierza do chwili gdy sprzęgiełko zacznie przepuszczać. Wyznaczamy różnicę pomiędzy wartością wskazaną obciążenia a wartością obciążenia wstępnego, wartość nacisku powierzchni pomiarowych jest równa iloczynowi wyżej wymienionej różnicy i przyspieszenia ziemskiego.

2)       

 

C9

1)        Definicja

– wysokość chropowatości wg 10 punktów, jest to średnia arytmetyczna wartości bezwzględnych wysokości 5 najwyższych wzniesień profilu chropowatości i głębokości 5 najniższych wgłębień profilu chropowatości w przedziale odcinka elementarnego.

- średnie arytmetyczne odchylenie profilu chropowatości. Jest to średnia arytmetyczna wartości bezwzględnych odchyleń profilu od lini średniej w przedziale odcinka elementarnego.
Odcinek elementarny-  jest to długość linii odniesienia przyjmowana do wyznaczania nierówności charakteryzujących chropowatość powierzchni

2)        Omów przebieg pomiaru odstępu chropowatości przy pomocy Shmaltza.
Obrócić głowice okularowa aby kresa przerywana zajęła położenie pionowe w polu widzenia, ustawić kreskę przerywana kolejno na wzniesieniach lub wgłębieniach zarysu profilu  przekroju świetlnego i odczytywać wyniki wskazań podziałki okularu odpowiadające kolejnym wzniesieniom lub wgłębieniom, obliczyć odstępy chropowatości Si dla wzniesień lub dla wgłębień jako różnicę Wi – Wi-1 kolejnych odczytów wskazań, jeżeli w polu widzenia mieści się mniej niż 6 wzniesień przesunąć stolik z próbka śrubą mikrometryczna i dokonać pomiaru odstępu pomiędzy minimum dwoma wzniesieniami lub wgłębieniami, obliczyć średni odstęp miejscowych wzniesień profilu nierówności zgodnie z wzorem S = [(W1-W2) + (W2-W3) + … +(W5-W6) + (W7-W8)]xWL, powtórzyć pomiar w 3 miejscach.

C10

1)        Omówić parametry charakteryzujące rozkład normalny.

Wartość oczekiwań: wartość opisująca spodziewany wynik doświadczenia losowego.

Mediana: wartość cechy w szeregu uporządkowany poniżej i powyżej w którym znajduje się jednakowa liczba obserwacji.

Wariancja: W statystyce klasyczna miara zmienności jest równa kwadratowi odchylenia średniego. Wyznacza się na podstawie próbki liczebności n i przyjmuje jako oszacowanie wariancji dla danej populacji.

Wartość średnia: używa się jej do szacowania nie wiadomej wartości poprawnej jako wartości centralnej względem której wyznacza się średnie odchylenie właściwości lub jako jednego z parametrów określającego stabilność procesu. Wartość średnią wyznacza się dla próbki o liczebności n i przyjmuje się jak oszacowanie wartości średniej dla danej populacji.

2)        Omówić pojęcie liczebności próbki w badaniach statystycznych.
Nie można jej wyznaczyć ale można obliczyć oszacowanie tej liczebności na podstawie granic kontrolnych poziomów częstości. Prostym sposobem obliczania szacowania liczebności próbki jest skorzystanie z ogólnie znanej w statystyce zmiennej losowej standaryzowanej.

Z3

C1

3)        Komputerowy system pomiaru odchyłek kształtu wałka.
Strona 39.

4)        Naszkicować i omówić oznaczenie tolerancji walcowości na rysunku konstrukcyjnym.

Tolerancja walcowości - określa największą dopuszczalną odchyłkę rzeczywistego walca od walca przylegającego.

C2

1)        Komputerowy system pomiaru nieparzystych odchyłek okrągłości.
Strona 48.

2)        Omówić bezodniesieniową metodę pomiaru odchyłki okrągłości.
Bezodniesieniowa metoda pomiaru odchyłek okrągłości polega na zamocowaniu walka w dwóch punktach leżących na jego osi symetrii i obrocie dookoła niej. Baza pomiarowa jest os a nie powierzchnia walka.    

C8

1)        Omówić przebieg sprawdzania równoległości powierzchni pomiarowych mikromierza.

W mikromierzach o zakresie pomiarowym do 75 mm równoległość powierzchni pomiarowych wrzeciona i kowadełka sprawdza się przy pomocy kompletu szklanych płasko równoległych płytek interferencyjnych składającego się z 4 płytek o wymiarach stopniowanych, co 0,25 skoku śruby mikrometrycznej. W czasie pomiaru płytkę należy zacisnąć między kowadełkiem a wrzecionem mikromierza przy pomocy sprzęgła a następnie lekko zwalniając wrzeciono i delikatnie pochylając płytkę interferencyjną trzeba uzyskać najmniejszą liczbę prążków interferencyjnych na jednej z powierzchni pomiarowych (należy obserwować prążki na drugiej powierzchni). Błąd równoległości wyznaczamy ze wzoru: r =(m1+m2)*0,5*λ  m1-liczba prążków na powierzchni kowadełka m2- liczba prążków na powierzchni wrzeciona lambda- długość fali użytego światła. Sprawdzanie dokonuje się używając kolejno wszystkich 4 płytek jako błąd przyjmuje się największy z otrzymanych wyników. Przy sprawdzaniu mikrometrów o większych zakresach pomiarowych oprócz płytek interferencyjnych używa się dodatkowo płytki wzorcowej o odpowiednim wymiarze.

2)        Omówić przebieg wyznaczania nacisku pomiarowego mikromierza.
Zakładamy obciążenie wstępne na jedną szale wagi na drugą szale zakładamy odpowiednie odważniki. Montujemy w statywie mikromierz doprowadzamy do styku powierzchni pomiarowych mikromierze przez obracanie sprzęgiełka mikromierza do chwili gdy sprzęgiełko zacznie przepuszczać. Wyznaczamy różnicę pomiędzy wartością wskazaną obciążenia a wartością obciążenia wstępnego, wartość nacisku powierzchni pomiarowych jest równa iloczynowi wyżej wymienionej różnicy i przyspieszenia ziemskiego.

C9

3)        Definicja

– wysokość chropowatości wg 10 punktów, jest to średnia arytmetyczna wartości bezwzględnych wysokości 5 najwyższych wzniesień profilu chropowatości i głębokości 5 najniższych wgłębień profilu chropowatości w przedziale odcinka elementarnego.

- średnie arytmetyczne odchylenie profilu chropowatości. Jest to średnia arytmetyczna wartości bezwzględnych odchyleń profilu od lini średniej w przedziale odcinka elementarnego.
Odcinek elementarny-  jest to długość linii odniesienia przyjmowana do wyznaczania nierówności charakteryzujących chropowatość powierzchni

4)        Omów przebieg pomiaru wysokości chropowatości przy pomocy mikroskopu Shmaltza.
Umieścić próbkę na stoliku pomiarowym tak aby ślady obróbki były prostopadle do krawędzi szczeliny świetlnej lub krawędzi cienia, ustawiać kolejno kreskę przerywana stycznie do wierzchołków a następnie wgłębień linii zarysu profilu, odczytywać kolejne wskazania W1, W2..W10 podziałki okularu odpowiadające kolejnym wierzchołkom i wgłębieniom, obliczyć wart parametru Rz wg wzoru Rz=1/5(W1+W3+W5 +W7 +W9 –W1… -W10) WL / Pier2. Powtórz pomiary w 3 miejscach.

C10

1)        Omówić sposoby pobierania jednostek wyrobu do badań.

- pobieranie z wykorzystaniem generatora liczb losowych: stosowane gdy przedstawia się wyrób do kontroli w formie uporządkowanej ( ponumerowane jednostki lub serie ).

- pobieranie sposobem przypadkowym ( na ślepo): stosowany gdy przedstawia się wyrób do kontroli luzem lub porządkowanie ich jest nie ekonomiczne. Jednostki muszą pochodzić z różnych miejsc, partii nie stosuje się gdy wady wyrobu widać wzrokowo.

-  pobieranie systematyczne: stosowane gdy przedstawia się wyrób do kontroli w formie potokowej jednostki pobierane w określonych odstępach czas bądź ilości jednostek.

- pobieranie wielostopniowe: Stosowane gdy przedstawia się wyrób do kontroli w opakowaniach nie  jednostkowych, polega na etapowym tworzeniu próbki poprzez pobieranie jednostek opakowani a następnie jednostek wyrobu z pobranych opakowań.

- pobieranie warstwowe: stosowane gdy się przedstawia wyrób do kontroli składającej się z dwóch lub więcej pod partii.

2)        Wyjaśnić pojęcie średniej standaryzowanej.
Sposób liczenia oszacowania liczebności próbki.

Z4

C1

1)        Niepewność jaką powinien charakteryzować się przyrząd pomiarowy.
Z uwagi na tolerancje danego wymiaru winien być spełniony warunek ∆ (dokładność pomiaru danego przyrządu) ≤ 0,1 Tw (tolerancja mierzonego wymiaru) 

2)        Wymienić elementy komputerowych systemów pomiarowych.
Przyrządy pomiarowe z wbudowanymi elektrycznymi przetwornikami wielkości (długości lub kata) oraz przetwornikami A/D musza mieć one cyfrowe wyjście danych, program transmisji danych. Komputer systemowy gdzie jest przeprowadzana obróbka i analiza. Oprogramowanie do gromadzenia, analizy, graficznego przedstawienia wyników pomiarowych np. Excel.

C2

1)        Definicja odchyłki okrągłości:
Odchyłka okrągłości – miara niezgodności rzeczywistego zarysu przedmiotu z kształtem geometrycznym okręgu. Jest to największa odległość zarysu rzeczywistego od okręgu przylegającego do tego zarysu, mierzona wzdłuż promienia tego okręgu. Najczęściej spotykanymi odchyłkami okrągłości są owalność i graniastość. W celu wykrycia owalności stosuje się styk 2 punktowy a do garaniastości styk 3 punktowy.

2)        Komputerowy system pomiaru nieparzystych odchyłek okrągłości.
Strona 48.

C8

1)        Omówić zasadę sprawdzania płaskości powierzchni pomiarowych mikromierza. metoda ta polega na przyłożeniu do badanej powierzchni płaskiej płytki interferencyjnej i zaobserwowaniu obrazu prążków interferencyjnych. Jeśli obraz stanowią nie zamknięte krążki interferencyjne to odchylenie P od płaskości należy wyznaczyć ze wzoru: P=n*k* λ / 2 jeśli obraz stanowią zamknięte prążki interferencyjne to odchylenie płaskości liczymy ze wzoru: P= m*λ/2. k – odległość pomiędzy sąsiednimi prążkami, n – odchylenie od prostoliniowości w jednostkach równych k prążków, m – liczba kołowych prążków, λ – dł. fali światła.

2)       
 

C9

3)        Podać definicję S mi , Sm.
-odstęp chropowatości (S mi) – jest to długość odcinka linii średniej m zawierająca wzniesienie i sąsiadujące z nim wgłębienia profilu chropowatości

-średni odstęp chropowatości  (Sm) – jest to średnia wartość z odstępów chropowatości występujących w przedziale odcinka elementarnego (l)

4)        Na czy polegają stykowe metody pomiaru.
Metoda stykowa polega na wykorzystaniu igły o znanej geometrii przesuwającej się po badanej powierzchni ze stałą prędkością. Przemieszczenia pionowe igły są przekształcane na sygnał elektryczny. Wzmocniony sygnał może być przetwarzany na wartości liczbowe żądanych parametrów chropowatości lub rejestrowany w postaci profilogramu o znanym powiększeniu pionowym i poziomym.

C10

3)        Omówić parametry charakteryzujące rozkład normalny.

Wartość oczekiwań: wartość opisująca spodziewany wynik doświadczenia losowego.

Mediana: wartość cechy w szeregu uporządkowany poniżej i powyżej w którym znajduje się jednakowa liczba obserwacji.

Wariancja: W statystyce klasyczna miara zmienności jest równa kwadratowi odchylenia średniego. Wyznacza się na podstawie próbki liczebności n i przyjmuje jako oszacowanie wariancji dla danej populacji.

Wartość średnia: używa się jej do szacowania nie wiadomej wartości poprawnej jako wartości centralnej względem której wyznacza się średnie odchylenie właściwości lub jako jednego z parametrów określającego stabilność procesu. Wartość średnią wyznacza się dla próbki o liczebności n i przyjmuje się jak oszacowanie wartości średniej dla danej populacji.

4)        Omówić pojęcie liczebności próbki w badaniach statystycznych.
Nie można jej wyznaczyć ale można obliczyć oszacowanie tej liczebności na podstawie granic kontrolnych poziomów częstości. Prostym sposobem obliczania szacowania liczebności próbki jest skorzystanie z ogólnie znanej w statystyce zmiennej losowej standaryzowanej.

Zestaw I

C2

3)        Wyjaśnić zasadę doboru współczynnika wykrywalności pryzmy.
Odchyłka graniastości przy pomiarach w pryzmie Δ jest obrazem wskazania czujnika Δw i współczynnika wykrywalności pryzmy S. Δ=Δw/S. wartość współczynnika wykrywalności odczytuje się z tablic. Aby go odczytać należy znać ilo-kątna jest graniastość oraz kat pryzmy.      

4)        Wyjaśnić związki pomiędzy tolerancja wymiaru i kształtu  wałków lub otworów.
ΔW = T –ΔK. Oznacza to ze dopuszczalna całkowita odchyłka wymiarowa ΔW zależy od odchyłki określającej dokładność kształtu ΔK. W każdym przypadku tolerancja kształtu winna zajmować tylko część tolerancji wymiaru. Jeżeli wymagania dotyczące dokładności kształtu SA większe niż wynika to z tolerancji wymiarów to stosujemy dodatkowo tolerancje kształtu.

C3

1)        Omówić przebieg pomiaru średnicy podziałowej  gwintu mikroskopem warsztatowym bez użycia nożyków pomiarowych.
Po ustawieniu mikroskopu, mierzonego gwintu i ostrości obrazu należy doprowadzić środkową kresę siatki pomiarowej okularu do pokrycia ze zboczem zarysu gwintu tak aby środek krzyża siatki pomiarowej okularu znajdował się w połowie długości zbocza zarysu gwintu. Dokonać odczytu wskazania w1 przesuwu poprzecznego stolika mikroskopu, następnie należy przesunąć stolik pomiarowy mikroskopu przy pomocy przesuwu poprzecznego tak aby środkową kresa siatki pomiarowej okularu pokryła się z przeciwległym zboczem zarysu gwintu. Dokonać odczytu w2 wskazania przesuwu poprzecznego stolika. Obliczyć cząstkowy wynik pomiaru średnicy podziałowej jako różnice wskazań d’2= w1(0) – w2  żeby zredukować błąd pomiaru powtarzamy pomiary. Obliczyć drugi cząstkowy wynik pomiaru d’’2=w3(0)-w4. Obliczyć wartość średnicy podziałowej ze wzoru d2=0,5(d’2+d’’2).

2)        Omówić tolerancje i pasowanie gwintów metrycznych.
Tolerancja i pasowanie gwintów metrycznych są objęte Polskimi Normami. Zgodnie z tymi normami przedstawiono położenie pól tolerancji dla gwintów metrycznych. A) gwinty wew. b) gwinty zew. Normy przewidują 2 rodzaje gwintów ze względu na charakter pasowania w złożeniu śruba- nakrętka; *gwinty suwliwe (H)-gwinty wew. i zew(h), EI=0 ES=0, *gwinty luźne (G)-gwinty wew. i zew. (g,e,d). Oraz 3 klasy dokładności gwintów metrycznych; *klasę dokładną, szereg tolerancji 3-6 *średnio dokładną, 5-7 *zgrubną,7-9. Wyróżnić można 3 długości skręcenia połączeń gwintów: *mała S *średnia N *duża L. Oznaczenie gwintu: wartość średnicy zew., skok gwintu, klasa dokładności, rodzaj gwintu. M20x2-6H

C4

1)        Podać charakterystykę metrologiczną mikroskopu warsztatowego.

Zakres pomiarowy  mikroskopów warsztatowych  wynosi; w małych 25x75 mm , w dużych 50x 150 mm; obszar pomiarowy podziałki liniowej 25 mm, podziałki kątowej 360 stopni . Wartość działki elementarnej: mały mikroskop warsztatowy  0,01 mm, duży mikroskop warsztatowy 0,005 mm, dla kątów 1’.

2)        Wyjaśnić wpływ długości strzałki na dokładność pomiaru promienia krzywizny.

∆s=s1-s = R(1-cosφ) z tego wzoru wynika, ze błąd ten jest spowodowany niewłaściwym pomiarem strzałki mierzonego luku. Przy nie poprawnie ustawionej siatce okularu mikroskopu, dla określonej cięciwy c zostanie zmierzona strzałka s1 zamiast odpowiadającej tej cięciwie strzałki s. Poprawną wartość strzałki s przy błędnie ustawionej siatce okularu mikroskopu można wyznaczyć: s=s1-R(1- cosφ).

...