1. Błędy pomiarów: a) błedy pomiarowe- zmieniaja się w sposób nieprzewidziany zarówno co do wartości bezwzględnej jak i znaków przy wykonywaniu dużej liczby pomiarów tej samej wartości pewnej wielkości w warunkach praktycznie niezmiennych przyczyny występowania błędu przypadkowego może być: zmienne tarci, luzy, zmiany temp. , odkształcenia zmienne, drgania, itp. b)błędy systematyczne- przy wielu pomiarach tej samej wartości pewnej wielkości wykonywanych w tych samych warunkach pozostaje stały zarówno co do wartości bezwzględnej jak i znaku. Błędy systematyczne sumuje się algebraicznie gdzie: n- liczba cząstkowych błędów systematycznych - sumaryczny błąd systematyczny c)błedy nadmierne gróbe- wynikaja z nieprawidłowego wykonania pomiaru. Wynik pomiaru obarczony błędem nadmiernym należy odrzucić 2.Błędy pomiarów pośrednich: pomiar pośredni- gdy wartość wielkości mierzonej otrzymuje się pośrednio z pomiarów bezpośrednich innych wielkości związanych z wielkością mierzoną znaną wielkością funkcyjną. Błąd pomiarów pośrednich- Równanie definicyjne ma postać: x=f(A,B,C). Błąd pomiaru wielkości x zależy od błedów składowych , czyli: albo:
3.Odchyłka podstawowa- to jedna z odchyłek granicznych(górna lub dolna) wykorzystywana do określenia położenia pola tolerancji względem linii zerowej, niezależnie od jej klasy dokładności przy ich graficznym przedstawieniu. Dla pól tolerancji położonych nad linią zerową podstawowa odchyłką jest odchyłka dolna ei, EI. Dla pól tolerancji przeciętych linią zerową w przypadku wałków podstawową odchyłką jest odchyłka dolna ei , a w przypadku otworów odchyłka górna ES. 4.Odchyłki kształt kształtu jest to różnica kształtu elementu rzeczywistego i kształtu opowiadającego elementu nominalnego. Wartością odchyłki jest największa odległość punktów elementu rzeczywistego od elementu przylegającego kierunku normalnym do elementu przylegającego •odchyłka prostoliniowości -wypukłość -wklęsłość
•odchyłka okrągłości
•odchyłka płaskości
•odchyłka walcowości -bryłowość
-siodłowośc-stożkowość
5.Płytki wzorcowe płytka wzorcowa- jest to wzorzec długości w kształcie równoległościanu prostokątnego wykonany z materiału odpornego na zużycie, o dwóch powierzchniach pomiarowych płaskich i równoległych względem siebie mających właściwości przywieralności do powierzchni pomiarowych innych płytek wzorcowych w celu tworzenia stosów •klasy dokładności płytek wzorcowych- zgodnie z polskimi normami płytki wzorcowe są wykonane w czterech klasach dokładności K,O,1,2 według norm obowiązujących do 1998r płytki wzorcowe były wykonywane również w klasie OO •Punkty Airy’ego- płytki wzorcowe o długości nominalnej większej niż 100mm powinny mieć naniesione na powierzchniach bocznych kreski umieszczone w odległości 0,2113xln od powierzchni pomiarowych
6.Czujnik zegarowy zębaty czujnik zegarowy jest skonstruowany w taki sposób że, drobne przesunięcia trzpienia mierniczego A powoduje znaczne przesunięcia wskazówki czujnika za pośrednictwem odpowiednich przekładni zębatych. Sprężyna S1 usuwa wpływ luzów w mechanizmie, a sprężyna S2 powoduje przesunięcie wskazówki czujnika do położenia zerowego po naciśnięciu górnej główki czujnika.
8.Tolerancje i pasowania złączy gwintowych- charakter pasowania gwintów określony jest przez wzajemne położenie pól tolerancji średnicy zewnętrznej i podziałowej gwintów śruby i nakrętki •gwint wewnętrzny
•gwint zewnętrzny
TD1- tolerancja średnicy wewnętrznej gwintu wewnętrznego TD2- tolerancja średnicy podziałowej gwintu wewnętrznego EI- dolna odchyłka średnic gwintu wewnętrznego ES- górna odchyłka średnic gwintu wewnętrznego ei- dolna odchyłka średnic gwintu zewnętrznego es- górna odchyłka średnic gwintu zewnętrznego Td- tolerancja średnicy zewnętrznej gwintu zewnętrznego Td2- tolerancja średnicy podziałowej gwintu zewnętrznego
9.Pomiary chropowatości powierzchni Metody: 1) Zastosowanie wzorców chropowatości. Najprostrzym sposobem oceny chropowatości powierzchni jest wzrokowe porównanie sprawdzanej powierzchni ze wzorcami chropowatości w tym celu używa się przyrządów optycznych lub stosuje się metodę stykowa – przesuwa się parokrotnie po obu porównanych powierzchniach paznokciem lub metalowym krążkiem ø 15÷25mm w praktyce metrologicznej bywają stosowane wzorce przedmiotowe oraz wzorce użytkowe .Za wzorce przedmiotowe(produkcyjne) przyjmuje się wybrane przedmioty, które maja odtwarzać zadana chropowatość powierzchni, dla porównania z ocenianymi wyrobami. Wzorce użytkowe chropowatości powierzchni są normalizowane . Maja postać specjalnych kompletów , płytek kwadratowych o wymiarach 20x20.
2) Pomiar za pomocą mikrointerferometru -Zasada działania mikroferometru opiera się na metodzie dwupomiarowej interferencji światłaW punkcie C znajduje się powierzchnia badana, w punkcie C’ powierzchnia wzorcowa. Promień świetlny, wychodzący z obiektywu w punkcie B jest rozdzielany na dwa promienie spójne. Jeżeli drogi optyczne ABCDE oraz ABCDE będą się różniły o wielokrotność polowy długości fali użytego światła , otrzymamy układ prążków interferencyjnych. Gdy powierzchnie C i C’ będą płaskie gładkie prążki utworzą układ linii prostych równoległych. Jeżeli powierzchnia badana będzie mieć ślady obróbki, proszki zostaną załamane zgodnie z profilem rzeczywistym powierzchni badanej i utworzą układ o warstwie różnych poziomów wynoszących polowe długości fali zastosowanego światła.
3) Pomiar za pomocą mikroskopu Schmalza Mikroskop Schmalza szala na zasadzie przekroju badanej powierzchni za pomocą promienia świetlnego obraz obserwowany w okularze jest utworzony przez oświetlenie powierzchni chropowatej wiązka szczelinowa padająca pod katem 45 stopni . Przed okularem jest umieszczona kasetka i płytka przesuwna za pomocą śruby mikrometrycznej
4) Pomiary profilograficzne Jest to najwygodniejsza metoda , z zastosowaniem przyrządów elektronicznych działających na zasadzie ciągłego odwzorowania profilu. W czasie pomiaru ślizgacz z końcówką pomiarową odwzorowującą zarys badanej powierzchni przesuwa się po wierzch lokach nierówności badanej powierzchni, Ruchy pionowe końcówki pomiarowej za pomocą przetwornika są przetwarzane na impulsy prądowe. Po wzmocnieniu impulsy te mogą być zarejestrowane w postaci profilografu powierzchni na taśmie specjalnego papieru elektroprzewodzącego lub całkowane w profilometrze i wykazane na wskaźniku jako wartość średniego arytmetycznego odchylenia profilu od linii średniej.
Talamasca